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金属导电电阻率测试仪批发采购玉溪

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金属导电电阻率测试仪批发采购玉溪

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-16 19:00

金属导电电阻率测试仪批发采购玉溪

金属导电电阻率测试仪批发采购玉溪


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

金属导电电阻率测试仪批发采购玉溪

输入电源输入:220V±10% 使用频率:50Hz

四探针电阻率检测仪适用范围:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

测试工作站工作位置工作站的位置选择安排在一般人员非必经的处所,使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时,将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站"。如果工作站与其它作业站非常接时,特别注意安全的问题。在测试时标明“测试执行中,非工作人员请勿靠"

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

误差:±0.2%读数±2字

设置好被测物所需之参数,把被测物放于测试治具平台上操作,测试完毕直接显示测试数据。如配置软件,软件操作说明书同安装软件在一起,请注意查看操作步骤.

电导率:5×10-6~1×108ms/cm

电阻率测量:大屏幕清晰显示硅料电阻率值,方便检料工快速分选

金属导电电阻率测试仪批发采购玉溪

电阻测量范围: 电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

把样品放于固定治具夹口内,把HD和LD接口分别与治具接口连接(不分顺序)如图3;另外两个接口与探头接线位置连接,后,放入被测样品,输入高度数据(为探针之间的间距),其他数据为样品本身尺寸。

误差:±0.2%读数±2字

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

接通电源,开启电源开关,待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后,如图3,按“显示"键进入,

金属导电电阻率测试仪批发采购玉溪

安全要点非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。万一发生问题,请立即关闭电源并及时处理故障原因。

电阻率测量:大屏幕清晰显示硅料电阻率值,方便检料工快速分选

测量精度±(0.1%读数)

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

导电电阻率测试仪满足:YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

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如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

在开机界面按下按键板上的“显示"键,进入测量界面。如图1如图2,在液晶显示屏右侧有4个蓝色功能按键,当测材料电阻率时,请选择 “材料"按键 ,进入材料测试主界面.

人员资格本仪器为精密仪器,由训练合格的人员使用和操作。

一般目前的四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,zui常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

误差:±0.2%读数±2字

把被测物测试所需要之参数数据设定:

使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

按下“放大"键对应的按键可以对当前界面的测量数据进行放大

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量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV

按下“放大"键对应的按键可以对当前界面的测量数据进行放大

四探针电阻率方块电阻测试仪注意事项:仪器操作前请您仔细阅读使用说明书,规范操作

产品特点:四探针:一次测量,显示完整电阻率值。采用了独特的恒流源技术,能够满足宽范围的电阻率测试要求

配置手动粉末测试装置也可以(选购)自动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据,输入仪器后自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求,经济实惠,功能突出,设计合理,是粉末行业理想之测试仪器.

GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

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维护和保养使用者的维护为了防止意外发生,请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件,不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生,请直接与瑞柯仪器公司厂家联系或其的经销商给予维护。

测试功能:可选择:“RρK"(显示电阻,电阻率,电导率),“R"(只显示电阻),“ρ"(只显示电阻率,“K"(只显示电导率)3种显示模式。

衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等,这些金属饰物很容易造成意外的感电。

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量依据不同之测试样品,选择被测试电流,电流设置:按方向键移动光标至“电流"功能,按“设置"键进入;再按“左右"方向键选择电流数据,选择完毕后按“确定"键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.

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